ساخت نخستین نمونه طیف‌نگاری XPS در کشور

به گزارش خبرگزاری صدا و سیما، با ساخت نمونه اولیه این سامانه در دانشگاه تهران، ستاد توسعه اقتصاد دانش بنیان کوانتوم، لیزر و فوتونیک، گامی بلند در جهت خودکفایی در تأمین تجهیزات پیشرفته آزمایشگاهی و کاهش وابستگی به کشور‌های خارجی برداشته است.

پیشرفت علمی در حوزه مواد الکترونیک و پیشرفته، به طور مستقیم به وجود ابزار‌های دقیق برای تشخیص خواص فیزیکی و شیمیایی آنها وابسته است. امروزه مجهز بودن آزمایشگاه‌ها و مراکز تحقیقاتی به انواع سامانه‌های آنالیز، نقشی تعیین‌کننده در کیفیت پژوهش‌ها دارد. در این میان، سامانه طیف‌نگاری گسیل الکترون-فوتونی با اشعه ایکس (XPS) که گاهی با روش EDS (طیف‌نگاری پراش انرژی پرتو ایکس) اشتباه گرفته می‌شود، جایگاهی منحصر‌به‌فرد و حیاتی در ارزشیابی مواد دوبعدی و نیمه‌هادی‌ها دارد.

برخلاف روش EDS که صرفا حضور عناصر مختلف در یک ماده را نشان می‌دهد، سامانه XPS قادر است لایه‌های دقیق‌تری از ماهیت ماده را آشکار کند. این دستگاه نه تنها عناصر تشکیل‌دهنده را شناسایی می‌کند، بلکه پیوند‌های شیمیایی و نحوه اتصال عناصر را نیز مورد بررسی قرار می‌دهد. این قابلیت، XPS را به ابزاری بی‌بدیل برای محققان تبدیل کرده است.

اهمیت استراتژیک XPS در صنعت و پژوهش

کاربرد‌های این سامانه فراتر از دانشکده‌های شیمی است و در مراکز تحقیقاتی متمرکز بر علوم مولکولی، نیمه‌هادی‌ها و حتی توسعه نسل جدید باتری‌ها و المان‌های ذخیره‌سازی انرژی، نقشی وصف‌ناپذیر ایفا می‌کند. به باور کارشناسان، این سامانه را می‌توان دروازه‌ای برای ورود به دنیای آنالیتیک مواد دانست که در بخش‌های گسترده‌ای از علم و فناوری نفوذ کرده است.